Импедансная спектроскопия электролитических материалов.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Тема 1 ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И МАГНИТНЫЕ ЦЕПИ Общие сведения ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И МАГНИТНЫЕ ЦЕПИ Общие сведения.
Advertisements

Компьютерная электроника Лекция 10. Динамический режим работы биполярного транзистора.
Закон Ома Подготовила учениця 9-В Оборок Карина. V напряжение, I сила тока, R сопротивление.
Кафедра ВЭПТ Методы исследования топливных элементов 1 Лекция 12 Импедансная спектроскопия. Общие положения.
Электротехника и электроника Доцент Габриелян Ш.Ж.
Электротехника и электроника Пассивные элементы в цепях синусоидального тока.
Электромагнитные колебания 1. Свободные колебания в электрическом контуре без активного сопротивления 2. Свободные затухающие электрические колебания 3.
Компьютерная электроника Лекция 20. Усилители. Усилители Усилителем называется устройство, с помощью которого путем затрат небольшого количества энергии.
СИНТЕЗ ЛИНЕЙНЫХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ЦЕПЕЙ Автор Останин Б.П. Синтез линейных цепей. Слайд 1. Всего 23. Конец слайда.
Глушкин Александр Представляет. Графические и табличные информационные модели Презентация.
Новый подход в изучении темы переменный ток (Профильный уровень) М.М. Юмашев Лицей 1.
ЗАКОН ОМА В КОМПЛЕКСНОЙ ФОРМЕ Закон Ома в комплексной форме основан на символическом методе и справедлив для линейных цепей с гармоническими напряжениями.
Электротехника и электроника Линейные цепи переменного тока.
Переменный ток – это вынужденные электрические колебания Переменный ток, в отличие от тока постоянного, непрерывно изменяется как по величине, так и по.
Элементарный вибратор Лекция 13. Элементарный вибратор Прямолинейный провод длиной l, по которому протекает переменный ток, может излучать электромагнитные.
Электротехника и электроника ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ЦЕПИ С НЕЛИНЕЙНЫМИ ЭЛЕМЕНТАМИ.
Модель - случайная величина. Случайная величина (СВ) - это величина, которая в результате опыта может принять то или иное значение, причем заранее не.
ОСНОВЫ ТЕОРИИ ЦЕПЕЙ Конспект лекций для студентов направления подготовки – «Радиотехника» Разработал Доцент кафедры РС НовГУ Жукова И.Н. Министерство.
Моделирование и анализ работы электронных схем Разработал: студент гр. АП-529М Пятков П.А. Принял: канд. техн. наук, доцент Минасова Н.С.
Лекция 12 Емкостные преобразователи Емкостный преобразователь представляет собой конденсатор, электрические параметры которого изменяются под действием.
Транксрипт:

Импедансная спектроскопия электролитических материалов

Метод, при котором импеданс электрохимической ячейки или электрода измеряется как функция от частоты, называется, спектроскопией электрохимического импеданса (СЭИ, EIS). Электрохимическая цепь может быть описана двумя путями: на основе теоретического рассмотрения процессов и создания физической модели, и путем конструирования электрической эквивалентной схемы из простейших элементов, в первую очередь, сопротивлений (резисторов) и емкостей (конденсаторов), которые ведут себя подобно ячейкам. Для оценки параметров и получения информации о процессах транспорта носителей заряда проводится сопоставление моделей.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов ΔE sinωt ΔIsin(ωt+φ) Схема двухконтактной ЭХЯ

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импеданс (Z), как правило, определяют как общее сопротивление устройства или схемы протеканию переменного тока (AC) на заданной частоте и представляют в виде комплексного числа, что графически изображается на векторной плоскости. В роли таких комплексных чисел часто выступают фазоры (комплексные амплитуды), характеризующие амплитуду и фазу возмущения монохроматической или квазимонохроматической волны. Фазоры применяют для описания связи между E и I, определяя амплитуды вращающихся векторов напряжения и тока, расположенных в комплексных плоскостях

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Фазор-диаграмма для переменного напряжения E = ΔE·sin ωt

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Фазор-диаграмма, иллюстрирующая расхождение фазоров тока и напряжения на фазовый угол φ

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Эквивалентные представления в форме фазоров и временных зависимостей соотношений между током и напряжением для случая чисто омических цепей, где фазовый угол φ равен нулю

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Фазор-диаграмма для серии резистор – конденсатор оказывающая падение напряжения E, на комбинации резистивной R иемкостной C компонент системы RI и jXI

Импедансная спектроскопия электролитических материалов E= ΔE (cos t + jsin t) = ΔE e j t, где j = -1 - мнимая единица I = ΔI exp[j ( t + φ ] Выражение 1/ωС называют емкостным сопротивлением и обозначают символом X C

Импедансная спектроскопия электролитических материалов импеданс. Y –адмиттанс, G – проводимость (действительная часть адмиттанса), B – мнимая часть адмиттанса.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Представление импеданса (Z) из действительной (R) и мнимой части (X).

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Выражения, описывающие последовательное и параллельное соединение действительной и мнимой компонент.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Два вида реактивного сопротивления (мнимой части импеданса): индуктивность (XL) и емкость (XC)

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Взаимосвязь между параметрам импеданса и адмиттанса.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Не существует чистых R, C или L. Любой компонент любой цепи не является чисто активным или чисто реактивным, он всегда является комбинацией этих элементов импеданса. В результате все реальные (не идеальные) устройства имеют паразитные составляющие – паразитную емкость в резисторах, паразитное сопротивление в конденсаторах, паразитную емкость в катушках индуктивности и т.д. Естественно, что доля этих составляющих отличается для разных по природе или по способу получения материалах, что в результате влияет на точность, с которой можно определить сопротивление, емкость и индуктивность элемента. В реальных элементах содержится значительная доля паразитных составляющих. Если рассматривать элемент как комбинацию своего номинального значения и паразитных составляющих, его можно представить в виде комплексной цепи как комбинацию различных электрических элементов

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Компонент электрической цепи (резистор) с паразитными составляющими, представленный в виде эквивалентной электрической цепи

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Истинные, эффективные и измеряемые величины Истинное значение – это значение компонента электрической цепи (резистора, катушки индуктивности или конденсатора), не включая паразитные составляющие. В большинстве случаев истинное значение можно определить как математическое соотношение, включающее физический состав компонента. В реальных условиях имеют лишь научное, теоретическое значение. Эффективное значение включает в себя также паразитные составляющие. Является алгебраической суммой действительного и реактивного векторов компонента, а следовательно, оно является частотно зависимым. Измеряемая величина – значение, получаемое с помощью измерительного устройства. Оно включает в себя кроме описанных выше составляющих также неустранимые потери и неточности измерителя. Измеряемые величины всегда содержат дополнительные ошибки по сравнению с истинными и эффективными значениями. Эффективное значение измеряемой величины – это то, что нам необходимо определить, и цель измерений заключается в том, чтобы измеренное значение было как можно ближе к эффективному

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Взаимосвязь между истинным, эффективным и измеренным значениями

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Частотный отклик сопротивления

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Частотный отклик индуктивности

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Частотный отклик емкости

Импедансная спектроскопия электролитических материалов В настоящее время существует множество способов реализации измерения импеданса, каждый из которых обладает рядом достоинств и недостатков. Выбор зависит от конкретных условий и требований к измерениям, в частности от частотной области, диапазона измерения, точности измерения и простоты проведения эксперимента. При этом исследователь вынужден идти на компромисс, т.к. в одном методе невозможно совместить все возможности. Несколько типов измерительных инструментов, которые пригодны для измерения электрохимического импеданса, кратко описаны ниже. При частотах ниже Гц широко применяются различные мосты. Раньше использовали мосты, уравновешиваемые вручную (мост Уитстона, мост Шеринга), но современные приборы управляются компьютерами и являются автобалансирующими.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Простейший мостик Уитстона для измерений R и C.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема резонансного метода

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема I-V метода

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема радио частотного RF I-V метода

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема метода сетевого анализа

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема метода автобалансировочного моста

Импедансная спектроскопия электролитических материалов ReRe CeCe Схема двухконтактной ячейки. Re – рабочий электрод, Ce – противоэлектрод измерительной ячейки

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Варианты использования четырехзондовой измерительной ячейки

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Сопротивление 75 -Im Z, Ом Re Z, Ом R

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Емкость 500 -Im Z, Ом Re Z, Ом 500 С 10 Гц

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Индуктивность 0.1 -Im Z, Ом Re Z, Ом 10Гц L

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Диффузионный импеданс Импеданс Варбурга 0 Re Z, Ом -Im Z, Ом 500 W

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Конечный диффузионный импеданс 0 Re Z, Ом -Im Z, Ом BW

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Элемент постоянной фазы (СРЕ) -3 3 Re Z, Ом -Im Z, Ом 3 CPE n=0.5 n=0.6n=1 n=0.1 n=-0.1 n=-0.5

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Конечный элемент постоянной фазы (ВСР) 50 0 n=0.15 n= Re Z, Ом -Im Z, Ом ВСР n=0.5

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Неоднородная модель диффузии (NUD) -Im Z, Ом Re Z, Ом NUD

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Модель неоднородной объемной проводимости (NUС) NUС -Im Z, Ом Re Z, Ом

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Модель неоднородного фазового элемента (NUР) Z i,CPE r0r0 r0r0 XiXi -Im Z, Ом Re Z, Ом NUР

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Основные структуры импедансных моделей Описанные в предыдущих разделах структурные элементы моделируют импеданс отдельных элементарных электрохимических процессов. В реальных системах эти явления не существуют самостоятельно, а являются частью целостного процесса, который может включать как ряд электрохимических явлений, так и сопутствующие им химические, физические или электрические явления. Так как импеданс представляет собой внешнее, интегральное проявление, которое отражает определенным способом поведение всей системы, то для целей импедансного моделирования необходимо строить модельные структуры, составленные из отдельных элементов. С точки зрения системного анализа существуют три основные структуры, которые будут рассмотрены последовательно.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Модель Максвелла C1C1 C2C2 C3C3 R1R1 R2R2 R3R3

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Лестничная модель (Ladder) C1C1 C2C2 R1R1 R2R2 R3R3

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Модель Войта C1C1 C2C2 C3C3 R1R1 R2R2 R3R3

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Для целостного моделирования импеданса электрохимических процессов необходимо построение соответствующих модельных структур. Описание этих структур имеет существенное значение для импедансного анализа, который включает процедуры моделирования и симуляции, идентификации, а также и построение базы знаний, включающей теоретические и экспериментально определенные импедансные модели. Для этих целей необходимо, чтобы модельное описание отвечало некоторым основным требованиям. С одной стороны, оно должно нести в себе информацию о структуре и параметрах модели, с другой, должно быть удобным для компьютерной обработки, решения и хранения.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Моделирование процессов в ячейках с твердыми электролитами требует построения сложных эквивалентных схем. Основная задача исследования при этом сводится к построению эквивалентной схемы, адекватно отражающей электрохимические процессы в ячейке, а также к расчету различных омических и емкостных параметров этой схемы. При проведении измерений по мостовой схеме на постоянной частоте можно получить лишь результирующие значения R и С ячейки, отражающие в обобщенном виде всю совокупность происходящих процессов. Более полную информацию можно получить, при изучении частотных зависимостей R и С.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Эквивалентная схема для поликристаллического твердого электролита

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Последовательное соединение сопротивления и емкости

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Параллельное соединение R и С

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема I Импеданс ячейки с последовательным соединением R и С

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Элементы схемы I могут иметь простой физический смысл. Рассмотрим ионный проводник с одним сортом носителей (катионы или анионы). Сопротивление образца будет чисто омическим, если пренебречь (в первом приближении) геометрической (диэлектрической) емкостью При использовании блокирующих (необратимых) электродов с чисто металлической проводимостью (сопротивление электродов пренебрежимо мало) на межфазных границах электрод/ионный проводник возникает, как известно, двойной электрический слой, который представляет, по сути, конденсатор. Таким образом, электрохимическую ячейку можно представить в виде последовательно соединенных конденсаторов С ДС, характеризующих двойные слои на двух электродах, и омического сопротивления самого образца R.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема II Импеданс для параллельного соединения сопротивления и емкости

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема III Импеданс и эквивалентная схема ячейки из твердого электролита с блокирующими электродами без учета сопротивления границ зерен

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема III Аналитическое выражение для импеданса рассматриваемой цепи имеет достаточно громоздкий вид и трудно поддается анализу, однако качественное поведение годографа импеданса можно описать, не прибегая к вычислениям. Для высоких частот можно пренебречь влиянием емкости С 2 (ее комплексное сопротивление мало по сравнению с R), и получаем стандартную схему II. Поэтому высокочастотная часть годографа – это полуокружность радиуса R/2, проходящая через начало координат. В низкочастотном пределе (ω0) наоборот, можно пренебречь влиянием емкости С 1 (очень большой импеданс 1/ωС 1 ), и получаем схему I. В этом случае спектр импеданса выглядит как вертикальная прямая, проходящая через точку (R, 0).

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема IV Импеданс и эквивалентная схема ячейки с последовательным соединением сопротивлений и наличием параллельной емкости

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Физическая интерпретация схемы может заключаться в следующем. Предположим, что мы используем не полностью блокирующие электроды; т.е. через границу может протекать электрический ток, соответственно, наш двойнослойный конденсатор имеет утечку. Таким образом, сопротивление R характеризует сопротивление, связанное с протеканием реакции на границе электрод/электролит. Для случая последовательного соединения двух параллельных цепочек из емкости и сопротивления можно получить либо частично перекрывающиеся, либо неперекрывающиеся окружности. В случае, если постоянные времени τ =RC для двух цепочек существенно различаются, то окружности не перекрываются. Если τ 1 и τ 2 различаются незначительно, наблюдается перекрывание полуокружностей

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импеданс и эквивалентная схема ячейки с двумя параллельными цепочками

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема V Эквивалентная схема для электрода с емкостью двойного слоя Сд.с., и некомпенсированным сопротивлением раствора R1

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансная диаграмма схемы V

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Достаточно часто экспериментальные зависимости годографов импеданса имеют вид полуокружностей с центром, лежащим ниже оси абсцисс. Для их описания используют элемент CPE. Пример такой зависимости приведен на следующем слайде

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Схема VI Эквивалентная схема с элементом CPE и годографы адмиттанса (а) и импеданса (б)

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Выбор эквивалентных схем – наиболее сложный момент при использовании рассматриваемого метода. Одному и тому же виду годографа могут соответствовать несколько схем с различными значениями входящих в них элементов. Например, несколько электрических схем имеют одинаковые частотные зависимости импеданса. Такая неоднозначность несколько снижает значение информации, получаемой в ходе обработки экспериментальных данных. Тем не менее, в большинстве случаев с учетом имеющейся дополнительной информации об особенностях исследуемых материалов и ячеек выбор адекватной эквивалентной схемы практически однозначен.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансная диаграмма для Ca 12 Al 14 O 33.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансная диаграмма для силикатного стекла

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансные диаграммы для электронного проводника (a) и кислородно-ионного проводника (b,c)

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансметры, потенциостаты и электронные нагрузки ООО «Элинс» разработаны как электронное оборудование, предназначенное для проведения широкого спектра электрохимических исследований в различных областях химии и физики. Импедансметр позволяет исследовать электропроводящие свойства материалов путем регистрации спектров импеданса (комплексного сопротивления переменному току) при постоянном поляризующем напряжении. Прибор может регистрировать активную и реактивную составляющие импеданса при наложении на исследуемый образец или систему переменного (синусоидального) напряжения с различной фиксируемой амплитудой сигнала, измерять диэлектрические характеристики полупроводниковых систем, а также обладает другими полезными для исследователей функциональными возможностями. Потенциостат позволяет исследовать электропроводящие свойства материалов путем регистрации их вольтамперных характеристик на постоянном токе. Прибор может регистрировать постоянное напряжение на исследуемом образце, стабилизировать на нем напряжение или ток при регистрации напряжения и тока. Электронные нагрузки являются упрощенным вариантом потенциостатов с одним диапазоном тока и напряжения и позволяют исследовать нагрузочные характеристики различных источников тока.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансметр «Z-500PX

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Структурная схема импедансметра

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Подключение по двух- (а), трех- (б)и четырехэлектродной (в) схемам В импедансметре реализуются три способа подключения к исследуемому объекту: двух-, трех- и четырехэлектродные схемы. Во всех случаях токовыми электродами являются Counter и Work, а соответствующими потенциальными – Ref и Comp.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Главное окно программы ZPack_s

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Меню «Файл»

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Меню «Установки»

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Окно «Настройки»

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Окно «Калибровки»

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Окно параметров измерения импеданса «Дополнительная информация»

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Отображение зависимости мнимой составляющей импеданса от действительной

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Возможные внешние виды осциллограмм исходных сигналов в основном окне программы при установлении сигналов

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Возможные внешние виды осциллограмм исходных сигналов в основном окне программы при установлении сигналов: а) идеальный вид; б) слегка зашумленный сигнал напряжения – потенциала, можно работать, вероятно плохой контакт или дребезг в цепи электрода сравнения; в) слегка зашумлены оба сигнала, причины те же, что и в б), также возможен высокий общий уровень помех, отсутствие экрана, плохой контакт и т.п., можно работать; г) зашумлены оба сигнала, особенно потенциал, причины те же, также очень вероятно наличие возбуждения, желательно их устранить. Работать не желательно; д) возбуждение, причины те же, что и в г), но более явные. Работать нельзя; е) срыв обратной связи без возбуждения. Вероятен плохой контакт с любым из электродов, так же все предыдущие рекомендации. Работать нельзя, но в этом случае, скорее всего прибор уйдет в перегрузку и сам остановит эксперимент; ж) то же, но с возбуждением. Возможны все до сих пор рассмотренные причины. Работать нельзя; з), и) очень сильное возбуждение. Работать нельзя. Рекомендуется проверить работоспособность электродов, дребезг и надежность контактов.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Внешний вид базовой управляющей программы Z-Pack-s

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Окно настроек базовой программы

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Импедансная спектроскопия играет в современных электрохимических исследованиях колоссальную роль, а ее возможности с появлением современной аппаратуры возрастают многократно. Однако всегда необходимо принимать во внимание исключительную сложность исследуемых систем и самые разнообразные отклики в зависимости от природы образца и совокупности параметров эксперимента.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов Список литературы: 1. Вест А. Химия твердого тела. Теория и приложения, т.2. «МИР», М., Графов Б.М., Укше Е.А. Электрохимические цепи переменного тока. «Наука», М., Гуревич Ю.А. Твердые электролиты. «Наука», М., Дамаскин Б.Б., Петрий О.А. Введение в электрохимическую кинетику. «Высшая школа», М., Делахей П. Двойной слой и кинетика электродных процессов. «Химия», М.-Л., Стойнов З.Б., Графов Б.М., Савова-Стойнова Б., Елкин В.В. Электрохимический импеданс. «Наука», М., Укше Е.А. Синтез электрохимических цепей переменного тока. М., ВИНИТИ, 1974.

Импедансная спектроскопия электролитических материалов 8. Укше Е.А., Букун Н.Г. Твердые электролиты. «Наука», М., Фрумкин А.Н., Багоцкий В.С., Иофа З.А., Кабанов Б.Н. Кинетика электродных процессов. Изд-во МГУ, М., The Impedance Measurement Handbook. A Guide to Measurement Technology and Techniques. Agilent Technologies Co. Ltd Impedance Spectroscopy. Theory, Experiment and Applications. Ed. E. Barsoukov, J. Ross Macdonald. N.Y., Wiley Irvin J.T.S., Sinclair D.C., West A.R. Electroceramics: Characterization by Impedance Spectroscopy. // Advanced Materials V.2. N.3 P Иванов-Шиц А.К., Мурин И.В. Ионика твердого тела. Т.1. Изд-во СПбГУ. С-Пб