СОПОСТАВЛЕНИЕ МЕТОДОВ УЧЕТА ФОНА ПРИ ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОМ МИКРОАНАЛИЗЕ МОНАЦИТА ДЛЯ ЦЕЛЕЙ ДАТИРОВАНИЯ Карманов Н.С., Нигматулина Е.Н., Королюк В.Н., Лаврентьев.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
РОЛЬ ВЫСШИХ ПОРЯДКОВ ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛИНИЙ ПРИ РЕГИСТРАЦИИ НА ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫХ МИКРОАНАЛИЗАТОРАХ Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Нигматулина.
Advertisements

Лекция 25Слайд 1 Темы лекции 1.Физические основы рентгеновского микроанализа. 2.Количественный рентгеновский микроанализ с использованием метода трех поправок.
Институт земной коры СО РАН, Иркутск Аналитический центр ОЦЕНКА ВОЗМОЖНОСТИ КОЛИЧЕСТВЕННОГО РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ TiO 2, V, Ba, La, Ce, Nd,
Синтез и испытание кристаллов TRPO 4 в качестве образцов сравнения при РСМА редкоземельных минералов.
1 РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОЕ ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВАЛЕНТНОГО СОСТОЯНИЯ ЖЕЛЕЗА В ИЗВЕРЖННЫХ, ОСАДОЧНЫХ И КАРБОНАТНЫХ ГОРНЫХ ПОРОДАХ, ЖЕЛЕЗНЫХ РУДАХ И ПИКРОИЛЬМЕНИТАХ Институт.
1 ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические.
Рентгеноспектральное флуоресцентное определение Mo, Nb, Zr, Y, Sr, Rb, U, Th и Pb в алюмосиликатных горных породах А.Г. Ревенко, Е.В. Худоногова, Д.А.
ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫЙ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ В УСЛОВИЯХ НИЗКОГО ВАКУУМА. Вирюс А.А. – ИЭМ РАН Куприянова Т.А., Филиппов М.Н. – ИОНХ РАН.
Оже микроскопия Оже микроскопия Рентгеновский квант Энергия выбитых из из атома электронов.
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ПРОВЕРКА ПРИБЛИЖЕНИЙ ДЛЯ ЛАЗЕРНЫХ МЕТОДИК ИССЛЕДОВАНИЙ ОРЭ Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» А.И. Чумаков 1,2,
ОПТИМИЗАЦИЯ СХЕМЫ, ПОЛОЖЕНИЯ И ФОРМЫ ОБРАЗЦА В СПЕКТРОМЕТРАХ С ШИРОКОЙ АПЕРТУРОЙ ПУЧКОВ Жалсараев Бато Жалсараевич, ктн, снс РФА и разработка рентгеновских.
Сегодня: пятница, 29 ноября 2013 г.. ТЕМА :Рентгеновские спектры. Молекулы: энергия и спектры 1. Сплошной и характеристический РС 2. Возбуждение характеристических.
Методы исследования материалов функциональные свойства химические свойства и строение микроструктура фазовый состав кристаллическая структура элементный.
Синхротронное излучение в диагностике наносистем 4-й курс 8-й семестр 2007/2008 Лекция 2.
Относительная молекулярная масса. Относительной молекулярной массой Относительной молекулярной массой называют сумму относительных атомных масс элементов,
ПРИМЕРЫ РЕШЕНИЯ ЗАДАЧ ПО КУРСУ ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ РЕАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ 2 Д В.
Ковалентная неполярная химическая связь. (Вопросы к уроку) © Осиевская И.А.
Обобщение Атомная физика. По кодификатору : Планетарная модель атома Постулаты Бора Линейчатые спектры Лазер.
Лекция 10 Периодический закон и периодическая система химических элементов.
1 Наноматериалы и нанотехнологии - вчера, сегодня, завтра.
Транксрипт:

СОПОСТАВЛЕНИЕ МЕТОДОВ УЧЕТА ФОНА ПРИ ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОМ МИКРОАНАЛИЗЕ МОНАЦИТА ДЛЯ ЦЕЛЕЙ ДАТИРОВАНИЯ Карманов Н.С., Нигматулина Е.Н., Королюк В.Н., Лаврентьев Ю.Г. ИГМ СО РАН, Новосибирск,

N – интенсивность тормозного излучения Y – зависимость интенсивности тормозного излучения от атомного номера Z, энергии рентгеновского кванта E и энергии электронов E 0 F – поправка на матричные эффекты Индексы u – образец, st – фоновый стандарт Расчет интенсивности фона:

Условия измерения на JXA-8100 Элемент Аналит. линия Кристалл- анализатор/счетчик Смещение для измерения фона Возможные помехи при измерении фона SK JPET / Ar-метан±2Th, Pb M-серия YL 1 TAP / Ar-метан-1.5 / +2Y L-серия, Si K-серия UM JPET / ксенон-3 / +2.5Th, Pb M-серия, Ca, K K-серия ThM 1 JPET / ксенон±3Th, Pb M-серия PbM 1 HPET / ксенон±4.5Th, Pb M-серия, S K-серия U 0 = 15 kV, I = 200 nA, t = 200 / 100 / 100 c

Отношение рассчитанного фона к измеренному на фосфатах РЗЭ Pb = Pb *( *(Z(I)-57))

Монацит

Зависимость отношения вычисленного фона к измеренному от поправки на поглощение

Применение расчетного метода оценки уровня фона позволяет: 1.снизить время воздействия электронного пучка на образец ; 2.увеличить производительность анализа ; 3.упростить методику анализа, так как отпадает необходимость выбирать положение спектрометров для измерения фона.