Корныхин Евгений ВМК МГУ Система генерации тестовых программ с использованием ограничений ТЕСЛА.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Корныхин Евгений ВМК МГУ Система генерации тестовых программ с использованием ограничений ТЕСЛА.
Advertisements

Корныхин Евгений ВМК МГУ Система генерации тестовых программ с использованием ограничений ТЕСЛА.
Корныхин Евгений МГУ ТЕСЛА - система генерации тестовых данных для системного функционального тестирования микропроцессоров.
На ошибках учатся. учатся ошибках на.


Презентация урока для интерактивной доски по математике (1 класс) по теме: Состав числа 6
Найдите ошибку: 1) 24, 12:12 = , 12:12 = 2,01 2)123, 002:10 = 1230,02 123, 002:10 = 12,3002 3) 15, 4*2 = , 4*2 = 30,8 4) 3, 6*9 = 27, 54 3,
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин ИСП РАН / кафедра СП ВМК МГУ научный руководитель:
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин ИСП РАН / кафедра СП ВМК МГУ научный руководитель:
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин научный руководитель: д.ф.-м.н. А.К.Петренко.
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин научный руководитель: д.ф.-м.н. А.К.Петренко.
Определение стратегии вытеснения PseudoLRU на ветвях бинарного дерева Евгений Корныхин, ВМК / ИСП РАН.
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин научный руководитель: д.ф.-м.н. А.К.Петренко.
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин научный руководитель: д.ф.-м.н. А.К.Петренко.
ABC missing letters
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин.
Определение стратегии вытеснения PseudoLRU на ветвях бинарного дерева Евгений Корныхин (ВМК / ИСП РАН)
Построение тестовых программ для проверки подсистем управления памяти микропроцессоров Евгений Корныхин кафедра СП ВМК МГУ научный руководитель: д.ф.-м.н.
Исследование методов генерации программ для тестирования модулей управления памяти микропроцессоров Корныхин Евгений.
Транксрипт:

Корныхин Евгений ВМК МГУ Система генерации тестовых программ с использованием ограничений ТЕСЛА

ADD rd, rs, rt LD rt, rt, rs rd=0x0123 rs=0xFA5E … overflow cache hit - overflow - cache miss ожидается: происходит обнаружена ошибка

REGISTER rt, rs, rd, ru: 64; … ADD rt, rs, overflow LD ru, rt, normal(cacheMiss) VAR x: 64; … temp y[31]||y + z[31]||z; ASSERT temp[32] != temp[31]; VAR x: 64; … addr y + z; x Load(addr); тестовый шаблон описания тестовых ситуаций overflow.tslnormal.tsl