СОПОСТАВЛЕНИЕ МЕТОДОВ УЧЕТА ФОНА ПРИ ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОМ МИКРОАНАЛИЗЕ МОНАЦИТА ДЛЯ ЦЕЛЕЙ ДАТИРОВАНИЯ Карманов Н.С., Нигматулина Е.Н., Королюк В.Н., Лаврентьев. - презентация

1 СОПОСТАВЛЕНИЕ МЕТОДОВ УЧЕТА ФОНА ПРИ ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОМ МИКРОАНАЛИЗЕ МОНАЦИТА ДЛЯ ЦЕЛЕЙ ДАТИРОВАНИЯ Карманов Н.С., Нигматулина Е.Н., Королюк В.Н., Лаврентьев Ю.Г. ИГМ СО РАН, Новосибирск,

2 N – интенсивность тормозного излучения Y – зависимость интенсивности тормозного излучения от атомного номера Z, энергии рентгеновского кванта E и энергии электронов E 0 F – поправка на матричные эффекты Индексы u – образец, st – фоновый стандарт Расчет интенсивности фона:

3 Условия измерения на JXA-8100 Элемент Аналит. линия Кристалл- анализатор/счетчик Смещение для измерения фона Возможные помехи при измерении фона SK JPET / Ar-метан±2Th, Pb M-серия YL 1 TAP / Ar-метан-1.5 / +2Y L-серия, Si K-серия UM JPET / ксенон-3 / +2.5Th, Pb M-серия, Ca, K K-серия ThM 1 JPET / ксенон±3Th, Pb M-серия PbM 1 HPET / ксенон±4.5Th, Pb M-серия, S K-серия U 0 = 15 kV, I = 200 nA, t = 200 / 100 / 100 c

4

5

6 Отношение рассчитанного фона к измеренному на фосфатах РЗЭ Pb = Pb *( *(Z(I)-57))

7 Монацит

8 Зависимость отношения вычисленного фона к измеренному от поправки на поглощение

9

10 Применение расчетного метода оценки уровня фона позволяет: 1.снизить время воздействия электронного пучка на образец ; 2.увеличить производительность анализа ; 3.упростить методику анализа, так как отпадает необходимость выбирать положение спектрометров для измерения фона.