Лекционный курс «Физические основы измерений» Раздел МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ Тема СКАНИРУЮЩИЕ (растровые) МИКРОСКОПЫ (2) - презентация

1 Лекционный курс «Физические основы измерений» Раздел МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ Тема СКАНИРУЮЩИЕ (растровые) МИКРОСКОПЫ (2)

2 Сканирующий туннельный микроскоп Г. Бинниг и Х. Рорер, (IBM Цюрих) в 1986 г. получили Нобелевскую премию по физике «за разработку сканирующего туннельного микроскопа"

3 ТУННЕЛЬНЫЙ ЭФФЕКТ Для электронов на уровне Ферми вероятность прохождения через потенциальный барьер (величина туннельного тока ) :

4 Принцип сканирующей туннельной микроскопии Очень тонкое металлическое острие

5 Блок-схема сканирующего туннельного микроскопа

6 Изображение держателя и зонда Изображение зонда из SiO 2

7 Атомы йода на поверхности платины в сканирующем туннельном микроскопе Отсутствует атом йода

8 Полированная поверхность медной детали в сканирующем туннельном микроскопе

9 Атомы Fe на кристалле Cu(111) при 4К формируют «квантовый коралловый риф диаметром 14,3 нм. На изображении отражены изменения плотности электронных состояний. Двумерная квантовая яма (электронные потенциальные поверхности)

10 Микро- механическая сборка в СТМ (молекулы СО на платине)

11 Микро-механическая сборка в СТМ (атомы ксенона на никеле)