Сетевой Центр коллективного пользования УГТУ-УПИ «УНИКУМ» Попов А.А. проректор УГТУ-УПИ по НиИР 17 сентября 2009 г. г.Екатеринбург

В составе сетевого Центра коллективного пользования уникальным оборудованием УГТУ-УПИ следующие лаборатории: Комплексных исследований и экспертной оценки органических материалов; Структурных методов анализа и свойств материалов и наноматериалов; Физико-химических методов анализа неорганических материалов; Ядерно-физических методов исследования наноматериалов Информационно-телекоммуникационных систем и технологий. Состав Центра

Лаборатория комплексных исследований и экспертной оценки органических материалов СВЕРХПРОВОДЯЩИЙ ЯМР СПЕКТРОМЕТР AVANCE 400 МГц Гибридный квадрупольно-времяпролетный хромато-массспектрометр с ионизацией электроспреем (ESI-Q-TOF) micrOTOF-Q II Модульный жидкостный хроматограф с диодно-матричным и флуоресцентным детекторами и коллектором фракций «Agilent 1200 Series» Поляриметр прецизионный PerkinElmer Polarimetr 343 plus

Лаборатория структурного анализа и свойств материалов и наноматериалов Просвечивающий электронный микроскоп JEM Растровый электронный микроскоп JSM 6490 Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance Металлографические микроскопы OLYMPUS GX51 и Nikon Epiphot 200

Лаборатория структурного анализа и свойств материалов и наноматериалов Дилатометр L78 RITA Испытательная машина Instron 3382 Прибор синхронного термического анализа STA 449 C Jupiter Прибор лазерной вспышки LFA 457 MicroFlash Прибор динамического механического анализа DMA 242 C

ИК-КР спектрометр Vertex-70 Дифференциально-сканирующий калориметр DSC833E/400 Лаборатория физико-химических методов анализа неорганических материалов Анализатор размера частиц NIMBUS Дифрактометр рентгеновский XPERT PRO MPD

ЛАБОРАТОРИЯ ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ Циклотрон Р-7М

ЛАБОРАТОРИЯ ИНФОРМАЦИОННО-ТЕЛЕКОММУНИКАЦИОННЫХ СИСТЕМ И ТЕХНОЛОГИЙ Программно-аппаратный комплекс «АИСТ» Анализатор спектра E4402B фирмы Agilent Technologies Программно-аппаратный комплекс «Сигурд» Генератор сигналов сложной формы A 300 Rohde & Scwarz

Структурные методы исследования Просвечивающий электронный микроскоп JEM с приставкой для микроанализа Oxford Inca Характеристики: Максимальное ускоряющее напряжение -200кВ. Увеличение крат. Разрешение по точкам 0,23нм по линиям 0,14нм. Режимы TEM, STEM. EDS Разрешение энергодисперсионного спектрометра 136eV Назначение: Проведение электронно-микроскопических исследований по изучению тонкой структуры материалов, включая дислокационную, зеренную, субзеренную; фазового состава, химического состава отдельных фаз и их кристаллографической ориентации друг относительно друга; изучение морфологических особенностей выделений вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня. Пример: Структура высоколегированной нержавеющей стали в субмикронном состоянии

Растровый электронный микроскоп JSM 6490 с приставками для энерго- дисперсионного и волнового микро- анализа Oxford Inca и дифракции обратно рассеянных электронов – EBSD HKL Назначение: Проведение электронно-микроскопических исследований по изучению изломов, реплик, полированных и травленых поверхностей материалов; химического состава отдельных фаз; кристаллографической ориентации зерен друг относительно друга; изучение морфологических особенностей выделений вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня. Увеличение: до крат. Разрешение3нм при 30кВ и 4,5нм при 15кВ. Размеры образцадо 50х50х30мм Пример: Распределение ориентировок в α+β- титановом сплаве

Приборы для измерения теплофизических свойств Прибор синхронного термического анализа STA 449 C Jupiter Температурный интервал: С Точность измерения - 1К Масса пробы – до 5 г. Возможности: Позволяет синхронно проводить дифференциальный термический анализ (DTA, DSC) и термогравиметрический анализ (TГ или ТГА) Назначение: определение температурных интервалов фазовых переходов первого и второго рода; температур плавления, кристаллизации, полиморфного превращения, стеклования, упорядочения; энтальпии переходов; удельной теплоемкости; построение фазовых диаграмм; анализ процессов разложения, горения, окисления, испарения, кинетики реакций, степень кристалличности, определение чистоты материала Пример:Кривая ДСК и ее производная, позволяющая определить Тпп в сплаве Ti-6-4

Дилатометр L78 RITA «Rapid Induction Thermal Analysis» ХарактеристикиL78 RITA Teмпературный диапазон °C Диапазон измерений мкм Длина образца10 мм. Диаметр образца3-7 мм Максимальная скорость охлаждения 50 К/с Назначение: Проведение измерений по определению коэффициента линейного термического расширения, дилатометрических характеристик, температурных интервалов фазовых, структурных превращений, температур плавления, кристаллизации, стеклования, изменения размеров при протекании химических реакций окисления, разложения, горения и т.п., в широком интервале температур и различном типе окислительных, восстановительных и нейтральных сред. Пример: Термокинетическая диаграмма распада переохлажденного аустенита в стали 26ХМФА-3, построенная по дилатометрическим данным

Спасибо за внимание Контактная информация: ГОУ ВПО «УГТУ-УПИ», Екатеринбург, ул.Мира,19. тел ;