Применение зондовой микроскопии в нанотехнологиях Казанский физико-технический институт им. Е.К.Завойского Казанского научного центра РАН лаборатория физики и химии поверхности Институт физики Казанского федерального университета, кафедра оптики и нанофотники чл.-корр. АНТ, проф. Бухараев А.А. 1

АСМ-изображение эритроцита (~5 мкм). Примеры изображений микро и нанообъектов различного размера (получены с помощью АСМ - атомно-силового микроскопа) Увеличение в раз !!! АСМ-изображение глобулярной структуры мембраны (поверхности) эритроцита) Увеличение в раз !!! 2

СТМ изображение атомов углерода на поверхности пиролитического графита Изобретатели сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), лауреаты Нобелевской премии по физике за 1986 г. Г. Бинниг и Г. Рорер. 3 Увеличение в раз !!!

АСМ изображения нанопроволок никеля сечением 10х100 нм, полученных с помощью сканирующей зондовой литографии Микроконтактные площадки Профиль нанопроволоки Ni 4

Сканирование – построчное перемещение сверхострой иглы вдоль поверхности 5

а – схема сканера; б – фотография СТМ, 1 – трехкоординатный пьезодвигатель, 2 – предусилитель туннельного тока, 3, 4 – микрометрические винты рычажного редуктора для подвода иглы СТМ к образцу, 5 – микрометрические винты для перемещения образца. Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) с пьезодвигателем типа трипод, созданный в Казанском ФТИ РАН в 1993 году под руководством автора. 6

Схема работы СТМ Профили, отображающие рельеф поверхности, полученные при сканировании в режиме постоянного туннельного тока. Экспериментальные СТМ изображения поверхности Si, подвергнутого ионному облучению. 7

Изготовление микрозонда для СТМ из W проволоки: а – схема электрохимического перетравливания проволоки, б – место соприкосновения раствора щелочи и проволоки, где происходит травление, в – изображение кончика W иглы, полученное с помощью растрового электронного микроскопа с увеличением в 75 раз. 8

Сверхвысоковакуумный СЗМ фирмы «Omicron» СТМ изображение структуры (7х7) из отдельных атомов кремния Изображения отдельных атомов на поверхности кристаллов лучше всего получать в сверхвысоком вакууме. 9

Схема атомно-силового микроскопа 1 - лазер 2 –кантилевер(микрозонд) 3 - образец 4 - четырехсекционный фотодиод 5 – трубчатый пьезодвигатель 6 – блок обратной связи 7 - пьезомодулятор 10

Микрозонд - кантилевер АСМ (Фотографии получены на сканирующем электронном микроскопе) Балка кантилевера Игла кантилевера 11

Атомно-силовой микроскоп Solver P47 российской фирмы НТ-МДТ (Зеленоград) 12

Уменьшение высоты кутикул под действием демитикона : а - волос, повреждённый химической завивкой, б - этот же волос, обработанный диметиконом аб С помощью АСМ получают трехмерные изображения поверхности. Это позволяет, например, изучать воздействие косметических препаратов на структуру волоса a – СЗМ изображение фрагмента волоса человека; б – профиль волоса, по которому определяется высота кутикулы (h). 13

Пример использования АСМ при изучении процессов формирования наночастиц Со, на поверхности графита. 14

Магнитно-силовой микроскоп - атомно-силовой микроскоп с магнитным зондом 14 МСМ изображение поверхности винчестера ПК с записанной информацией АСМ (а) и МСМ (b) изображения наночастиц Со

Сканирующая зондовая нанолитография Наноцарапины АСМ изображения поверхности полимера после скрайбирования 15 Скрайбирование (удаление) нанослоя полимера иглой АСМ. Профиль наноцарапины

АСМ изображения нанопроволок Со на поверхности диоксида кремния, полученных методом сканирующей зондовой нанолитографии Микроконтактные площадки 16

Резка нанопроволоки Со на отдельные фрагменты иглой АСМ Скрайбирование 17

Заключение Современной уровень сканирующей зондовой микроскопии позволяет наряду с морфологией поверхности определять упругие, адгезионные, электрические, магнитные и другие характеристики с нанометровым пространственных разрешением. Важно, что многие процессы на поверхности можно изучать в реальном масштабе времени. С помощью СЗМ можно создавать наноструктуры методом литографии и путем перемещения атомов и молекул по заданной траектории. 18