Звягин Виктор Фомич twcad.ifmo.ru ЛИТМО - СПб ГосУниверситет Информа- ционных технологий механики и оптики Кафедра Фотоники и Оптоинформатики Web-Лаборатория Тестового обеспечения twcad.ifmo.ru Система Автоматизации Проектирования тестового обеспечения Обсуждаем - условное наименование СКД - Систему Контроля и Диагностики Сервис-центра тестового обеспечения ________________________________ Голыничев Владимир Николаевич комн. 366, ул.Саблинская 14

СПб ГосУниверситет Информационных технологий механики и оптики Звягин Виктор Фомич, к.т.н. доц. - на 2 кафедрах: Кафедра Фотоники и Оптоинформатики – зав. каф. Козлов Сергей Аркадьевич, д.ф-м.н., проф. Кафедра Информатики и Прикладной математики - зав. каф. Немолочнов Олег Фомич – д.т.н., проф. Курсы: Информатика - Фортран и PHP, Параллельное программирование, Контроль и диагностика ЭВМ, Теория автоматов Круг профессиональных интересов включает научную и образовательную деятельность.

twcad.ifmo.ru twcad.ifmo.ru web-лаборатория тестового обеспечения TestWare = Tw = тестовое обеспечение Web-интерфейсы + TwCAD 1979 : 2009 Demo-online – автоматическая генерация тестов на примерах Реальный опыт: промышленность и ISCAS Тест-online – ATPG, автоматическая генерация тестов прямо из Интернет DFT - Тестопригодное проектирование StudeoLab - обучение ATPG и DFT -русский -английский

TwCAD – САПР Тестового обеспечения Технология DFT & TFD Контроль триггеров и структур Master-Slave Верификация логики и избыточность Некорректность шин Оценка тестопригодности, прогноз достижимого качества тестов Моделирование и выбор тестопригодных изменений Автоматическая генерация тестов Конверторы Netlist и тестов библиотекарь микросхем, базовых элементов ПЛИС сбор статистики по генерации тестов

КОНЦЕПЦИИ простой принцип: "Вы нам схему - мы Вам тесты" Качество - это движение навстречу TwLab: есть препятствия к высокому качества теста ? - снять проблемы в логике, шинах, избыточности TwLab: есть проблемы в управляемости и наблюдаемости ? - реализовать полученные рекомендации TwLab: автоматическая генерация теста возможна? + разработчик получает тест в заказанном формате + список проверенных, непроверенных и непроверяемых неисправностей + обучение тестопригодному проектированию

Словарь неисправностей составляется после ATPG, виртуально – это 3-мерная таблица с размерностями число неисправностей 2*[количество контактов ИМС и разъёмов] число выходов [на внешних разъёмах] число наборов [во всех сегментах] Реально – это База Данных СКД, из которой нужные записи выбираются по мере надобности

Диагностический тестовый эксперимент по БД - словарю неисправностей фиксируется различие реакции схемы и эталона на всех выходах всех наборов теста из БД производится выбор неисправностей, общих для зафиксированных различий - это множество подозреваемых неисправностей кандидаты будут упорядочены по уровням срабатывания от входов к выходам из опыта и физики работы схемотехники нарабатывают правила, увязывающие неисправности с дефектами изготовления ОК

Контакт разъёма в сегмент.наборе теста характеризуют #номер в едином списке контактов разъём: контакт или тип-ИМС: контакт имя цепи значение 0,1 направление вход-выход маска контроля Да или Нет [X] высокоимпедансное состояние Z или нет Z

Сервис-центр тестового обеспечения

SOFT [17] Ф&ОИ - кластер Gentoo Linux [5] Ф&ОИ Server 2008 Windows Fortran-95 для параллельного программирования Си и C++ для системных задач PHP-5 для web- программирования HARD 22 узла (nodes) 44MoterBoards 176ядер [Intel Quad Xeon] 164=44x6+32 [ОЗУ] 200Gb/s общая шина 4.6Tb [диски HDD] Glasterfs – распределенная файловая система Суперкомпьютер Ф & ОИ производительностью 0.7 Тфлопс

Технологии проектирования теста Построить тест для "схемы как есть" препятствия к достижению 100% составляющие качества теста все виды тестов из ATPG Технология DFT & TFD (1) оцени и устрани - отсутствие сбросов, плохие шины, избыточность (2) получи DFT-рекомендации с прогнозом качества первичной схемы, схем с изменениями (3) сделай схему тестопригодной, повысив качество Студенческая Лаборатория по Контролю и Диагностике цифровых схем

ATPG - теория для последовательностных схем Модель корректного перехода Синтез установочной последовательности Синтез проверяющей последовательности Сокращение и упорядочение перебора Оценки управляемости, наблюдаемости и тестопригодности Прогноз качества теста для Моделирование и выбор оптимальных тестопригодных изменений

Составляющие качества теста, достижимого в ATPG Из опыта: Полнота теста в ATPG пропорциональна прогнозу P = C * Ob * V * 100%, где составляющие выражены в долях от всех битов P - прогноз качества теста, вычисленный до ATPG C - хорошо управляемые биты, где ATPG OK Ob - хорошо наблюдаемые биты, ATPG OK T=C*Ob - тестопригодные, хорошо управляемые и наблюдаемые биты V - рейтинг верификации по установочным последовательностям битов R - избыточность как часть неактивизируемых путей (непроверяемых неисправностей) – выше избыточность – ниже предсказуемость

Полнота теста в ATPG в зависимости от прогноза из опыта эксплуатации

Тестопригодность в зависимости от числа изменений Анализ влияния дополнительного управления и наблюдения на тестопригодность

Звягин Виктор Фомич twcad.ifmo.ru СПб ГосУниверситет Информационных технологий механики и оптики Кафедра Фотоники и Оптоинформатики Web-Лаборатория Тестового обеспечения twcad.ifmo.ru Система Автоматизации Проектирования Тестового обеспечения Голыничев Владимир Николаевич Спасибо за внимание..