Электронная и туннельная микроскопия Подготовила : Лаврентьева Екатерина У4-01

Электронная микроскопия позволяет с помощью электронного микроскопа исследовать микроструктуру тел при увеличениях до многих сотен тысяч раз (вплоть до атомно-молекулярного уровня), изучить их локальный состав и локализованные на поверхностях или в микрообъёмах тел электрические и магнитные поля (микрополя)

Метод реплик один из методов подготовки объекта к исследованию с использованием просвечивающего электронного микроскопа. Под репликой понимают прозрачную для электронов плёнку, структура которой воспроизводит структуру поверхности изучаемого объекта. просвечивающего электронного микроскопа

Метод декорирования Винтовые дислокации на поверхности кристалла NaCl, подвергнутого термическому травлению при температуре 773 К. Изображение получено методом декорирования

Фазовая электронная микроскопия Для расчёта контраста изображений кристаллических тел, имеющих регулярные структуры (при рассеянии частиц на таких телах происходит дифракция частиц), а также для решения обратной задачи расчёта структуры объекта по наблюдаемому изображению применяются методы фазовой электронной микроскопии

Лоренцова электронная микроскопия Изображение доменной структуры тонкой однородной по толщине пермаллоевой плёнки. Снято в просвечивающем электронном микроскопе при дефокусировке изображения (метод лоренцевой электронной микроскопии). Светлые и тёмные узкие полосы- границы доменов. Видна "рябь" намагниченности, возникающая вследствие малых изменений направлений векторов намагниченности (отмечены стрелками) внутри доменов.

Количественная электронная микроскопия Изображение линий равной напряжённости поля ( от 25 до 150 Гс через 25 Гс) над зазором магнитной головки (ширина зазора 28 = 2 мкм) для магнитной записи информации. Получено в растровом электронном микроскопе со специальной приставкой

Иммуноэлектронная микроскопия это непосредственная визуализация взаимодействия антигена и антител с помощью электронной микроскопии. Иммуноэлектронная микроскопия впервые была предложена для вирусологических исследований Дж. Альмейда и А. Ватерсоном в 1969г.

Сканирующий туннельный микроскоп Блок-схема сканирующего туннельного микроскопа:1 – двигатели для перемещения зонда по осям X, Y, Z; 2 – двигатель для перемещения объекта по оси Z; U x, U y, U z, - напряжения, подаваемые на двигатели 1; U z – напряжение, подаваемое на двигатель 2; U – разность потенциалов между зондом и объектом; I т – туннельный ток

Схема работы сканирующего туннельного микроскопа

Спасибо за внимание!