РГУ им. Иммануила Канта Инновационный парк Центр ионно-плазменных и нанотехнологий СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП JSM-6390LV Скан образца строительного материала Углеродные нанотрубки

Разрешение изображения во вторичных электронах 3.0 нм УвеличениеОт 8х до х (146 ступеней, цифровая индикация) Ток пучкаот 1 пА до 1мкА. Регулируемое давление в объектной камере 10 – 270 Па Минимальное давление1 Па Ускоряющее напряжение0.5 –30 кВ (53 ступеней) Диапазон перемещений образца Ось X : 80мм Ось Y : 40 мм Ось Z : мм Наклон: от –10 о до +90 о (Диапазон наклона зависит от размера объектодержателя) Поворот: 360 о (без ограничений) Максимальные размеры образца 152,4 мм 125 мм с возможностью полного обзора с использованием поворота. Высота не более 35 мм Предназначен для исследования проводящих и непроводящих образцов в условиях регулируемого вакуума. Имеет новый графический пользовательский интерфейс, обогащенный различными функциями для облегчения управления и наблюдения, при этом каждый пользователь может видоизменить интерфейс по своему усмотрению. Технические характеристики