Туннельный микроскоп как система технического зрения для визуализации нанорельефа поверхности Карташев Всеволод Владимирович Карташев Владимир Алексеевич.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Туннельная и атомная силовая микроскопия Фомичева Мария, 13604, ИПММ 2014.
Advertisements

ЛЕКЦИИ Принципы сканирующей зондовой микроскопии. Сканирующий туннельный микроскоп. Атомно-силовой микроскоп.
Применение зондовой микроскопии в нанотехнологиях Казанский физико-технический институт им. Е.К.Завойского Казанского научного центра РАН лаборатория физики.
ОБОРУДОВАНИЕ НАНОТЕХНОЛОГИИ В начале ХХ века появилась идея изучать вещество, не увеличивая визуально исследуемую площадь его поверхности, а как бы трогая.
Лекционный курс «Физические основы измерений и эталоны» Раздел ИЗМЕРЕНИЯ В НАНОТЕХНОЛОГИЯХ Тема ЗОНДОВЫЕ МИКРОСКОПЫ. СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП.
Методы сканирующей зондовой микроскопии Мунавиров Б.В., Физический факультет, КГУ.
Морфологические методы анализа изображений Пытьев Юрий Петрович Чуличков Алексей Иванович МГУ имени М.В.Ломоносова, Физический факультет Кафедра компьютерных.
Стрельников Константин МГУ им. М.В. Ломоносова, Лаборатория компьютерной графики и мультимедиа Быстрый алгоритм обнаружения.
Сканирующая зондовая микроскопия. Определения Сканирующая зондовая микроскопия – физический метод исследования поверхностных слоев с нанометровым разрешением,
Лекционный курс «Физические основы измерений» Раздел МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ Тема СКАНИРУЮЩИЕ (растровые) МИКРОСКОПЫ (2)
История микроскопа Нет микроскопа, который бы так увеличивал, как глаза человека, любующегося собой. Александр Поп.
РАЗРАБОТКА НАНОЗОНДОВ ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА САМОЙЛОВ Л.Л. /СПБ ГУ ИТМО/
Нобелевская премия по физике,1986 г.. Физика поверхностных явлений в настоящее время является одним из наиболее интенсивно развивающихся разделов науки.
ИЗУЧЕНИЕ ЭЛЕМЕНТОВ КРИСТАЛЛА ТТЛ – МИКРОСХЕМЫ СРЕДСТАВМИ СЗМ Автор Нам Денис Олегович Котельники, МОУ КСОШ 2 ФМШ при МГТУ им. Н.Э. Баумана Научный руководительВолкова.
Электронная и туннельная микроскопия Выполнила : Молодан Юлия У 4-02.
Коррекция нелинейности сканера АСМ по изображениям тестовых структур Научный руководитель Малевич А.Э. доцент кафедры ДУ, кандидат физ.-мат. наук Лукьянова.
Естествознание. Педагог Солодкова Т.М. Выполнила Мазанова Е. ДХО 1 Атом.
Тринадцатая научная конференция «Шаг в будущее, Москва» Кафедра ИУ4 МГТУ им. Н.Э. Баумана «Проектирование и технология производства электронно-вычислительных.
РГУ им. Иммануила Канта Инновационный парк Центр ионно-плазменных и нанотехнологий Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator (СЗМ) Контактная литография.
1 Двенадцатая национальная конференция по искусственному интеллекту с международным участием СИСТЕМА ОБНАРУЖЕНИЯ И СОПРОВОЖДЕНИЯ ВИДЕОМАРКЕРОВ ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ.
Транксрипт:

Туннельный микроскоп как система технического зрения для визуализации нанорельефа поверхности Карташев Всеволод Владимирович Карташев Владимир Алексеевич ИПМ им. М.В. Келдыша РАН Москва, 2010

Сканирование при постоянной высоте (величина туннельного зазора 0,5 нм, т.е. два диаметра атома) Механическая развертка Изображение сигнала – суперпозиция формы зонда и истинного рельефа поверхности – Отсутствие наблюдаемости – Возможность появления артефактов Введение Построчное сканирование слева направо СТМ «УМКА» Изображение зонда СТМ в разных масштабах, полученное с помощью электронного микроскопа 2

Взаимодействие зонда СТМ с поверхностью Рельеф поверхности Траектория зонда Зонд 3 Возможно сканирование боковой поверхностью Увеличение выступовУменьшение впадин

Особенности функционирования зондового микроскопа Выпрямление линии движения зонда Гистерезис Устранение искажений, вызванных крипом 4 Тестовая поверхность (слева), результат ее сканирования (справа)

Предварительная обработка изображений Фильтр Гаусса Медианный фильтр Выделение краев Сегментация и поиск неоднородностей Современное ПО зондовых микроскопов позволяет осуществлять обработку с помощью стандартных графических пакетов. Она сводится к применению функционала к измерению: R i =F i (R i -1,P i ), где Ri – данные, которые получаются после выполнения i -й команды, Fi – функция преобразования данных, Pi – множество параметров преобразования данных на шаге i. Стандартные графические фильтры: 5

Размеры выступов уменьшились Размеры вогнутостей увеличились Устранены шумы Четко видна структура расположения нанообъектов Структуры имеют скругленные границы Игла не может проникнуть в острое место Расширенная обработка 6 Исх.Рез-т

Масштабы и результаты обработки 7 РЭМ-изображение платины Область интереса Разность между изображениями

Выводы СТМ как устройство технического зрения отличается тем, что область видимости нельзя наблюдать непосредственно. Заключение о корректности получаемых результатов можно получать только основываясь на косвенной информации. Благодаря учету радиуса закругления зонда, удается добиться повышения разрешающей способности и достоверности получаемых изображений. 7

Проблемы программного обеспечения СЗМ Спасибо за внимание.