ФОРМ Российский 100 МГц Тестер Formula HFMT для высокопроизводительного контроля микросхем памяти (платформа FormulaHF2) ГИП Formula HFMT Антон Климовских. - презентация

1 ФОРМ Российский 100 МГц Тестер Formula HFMT для высокопроизводительного контроля микросхем памяти (платформа FormulaHF2) ГИП Formula HFMT Антон Климовских

2 FORMULA HF

3 FORMULA HFMT

4

5

6 Функциональный Контроль (ФК) СБИСЗУ ФК линейный с небольшим количеством циклов и подпрограмм для динамики и поиска состояний ФК состоит только из циклов и переходов с алгоритмической генерацией данных на задание и на контроль Ядро Тестера СБИС – ГТПЯдро Тестера Памяти - АГТ

7 Как измеряют микросхемы ЗУ? Отечественные микросхемы ЗУ Западные микросхемы ЗУ Измеряют в соответствии с ТУ посредством детерминированных алгоритмов контроля (баттерфляй, галоп, и т.д.) Используют псевдослучайный тест Полное покрытие характерных браков ЗУ Единичный запуск псевдослучайного теста пропускает браки!!!

8 Как измеряют микросхемы ЗУ? Некоторые характерные ошибки: SAF – Stuck-At Fault; TF – Transition Fault; AF – Address-Decoder Fault; CF – Coupling Fault; DRF – Data Retention Fault; Только детерминированные алгоритмы контроля выявляют характерные ошибки ЗУ Некоторые детерминированные алгоритмы: Шахматный код; Усеченный галоп; Баттерфляй;

9 Шахматный код Сложность алгоритма: 4N Покрытие браков: SAF, DRF, и половину из TF

10 Баттерфляй Сложность алгоритма: 5NlogN Покрытие браков: все SAF и некоторые AF

11 Усеченный Галоп Сложность алгоритма: 4N 1.5 Покрытие браков: все AF, TF, SAF и некоторые CF

12 Время выполнения Теста (Частота 100 МГц!) Сложность алгоритма Емкость ЗУNNlogNN 1.5 N2N2 1M0.01 сек0.2 сек11 сек4 часа 16M0.16 сек3.9 сек11 мин33 дня 64M0.66 сек17 сек1.5 часа1.43 года 256M2.62 сек1.23 мин12 часов23 года 1G10.5 сек5.3 мин4 дня366 лет 4G42 сек22.4 мин32 дня57 столетий 16G2.8 мин1.6 часа255 дней915 столетий Шахматный Код БаттерфляйУсеченный Галоп Галоп МАРШ (N)

13 МАРШ March C- (van de Goor,1991): Сложность алгоритма: 10*n Покрытие браков: AF, SAF, TF и CF. { (w0); (r0,w1); (r1,w0); (r0,w1); (r1,w0); (r0)} Расширенный March C- : Сложность алгоритма: 10*n Покрытие браков: AF, SAF, TF, CF и некоторые SOF. { (w0); (r0,w1,r1); (r1,w0); (r0,w1); (r1,w0); (r0)}

14 Цена измерений!

15 Платформа: FormulaHF2 Типы памяти: SRAM – статическая СОЗУ; EEPROM, Flash – электрически стираемая перепрограммируемая постоянная; Dual-Port SRAM – статическая двух-портовая; SDRAM – динамическая ДОЗУ; ROM – постоянная ПЗУ; PROM – программируемая постоянная ППЗУ; EPROM – перепрограммируемая постоянная РПЗУ; Другой тип микросхем памяти. Область назначения: FormulaHFMT

16 Платформа: FormulaHF2 Тестер FormulaHFMT применяется: При разработке новых микросхем памяти: инженерные исследования; испытания; разработка новых методик; При проведении испытаний на производстве: периодические; типовые; приемо-сдаточные; квалификационные; входные; диагностические; предварительные; дополнительные; межоперационные; При ремонте (анализе браков) в промышленности гражданского и военного назначения; Область применения: FormulaHFMT

17 Основные характеристики АГТ Алгоритмический Генератор Тестов (АГТ) обеспечивает: Конфигурирование до 24-х алгоритмических шин (групповой контроль идентичных микросхем памяти - существенное повышение производительности); 8 регистров общего назначения на каждую шину; Прерывание по времени прохождения векторов; Условные и задержанные условные переходы; Разрядность операнда команд выборки 32 бита; Платформа: FormulaHF2

18 Пользовательское ПО

19 Инструменты для отладки ИП

20 Измерительная программа на 1645РУ4

21 Возможности обучения разработки ИП

22

23

24

25 Делайте свой выбор!